Vous interviendrez sur la PFNC, au sein du service de métrologie et caractérisation physique du CEA-Leti, dans le laboratoire de microscopie, mesures et défectivité (L2MD) en horaire de journée.
Vous agirez en qualité de technicien.ne en support aux développements des projets du CEA-Leti et de ses partenaires académiques et industriels
Le laboratoire dispose actuellement de plusieurs FIB (Gallium et Xénon) dont certains offrent une capacité de préparation automatique ou semi-automatique de lames minces et d’un parc complet d’équipements pour la préparation d’échantillons.
Nous rejoindre, pour faire quoi ?
Les analyses porteront sur des échantillons issus de procédés de fabrication de semi-conducteurs. Vos interactions avec les techniciens et ingénieurs filières seront alors cruciales pour bien comprendre leur besoin et identifier la meilleure technique/protocole à mettre en œuvre sur votre périmètre.
Les missions suivantes vous seront confiées au sein du groupe :
- La réalisation d’analyses et de préparations par FIB (lame TEM et pointes pour la sonde atomique tomographique et tomographie électronique) avec notamment un microscope permettant une automatisation des étapes de préparation
- La réalisation d’analyse par coupe FIB suivie d’observation MEB dans un même équipement double faisceaux (FIB et MEB)
- La préparation d’échantillon semi-conducteur, principalement sur substrat silicium : clivage, polissage mécanique pour réalisation de cross section
- La réalisation d’échantillons minces pour la microscopie en transmission par polissage mécanique suivi d’un amincissement ionique Argon
- La réalisation d’échantillons minces pour la microscopie en transmission par polissage mécanique : préparation tripode
- La réalisation de coupes transverses par usinage ionique Argon
- Le reporting de votre activité auprès du responsable de la thématique dans un but de valorisation de vos travaux
Ce poste traitera d’une grande diversité d’échantillons associée à une multitude de besoins (mesures dimensionnelles, analyses chimiques, recherche de défauts, …) et d’interlocuteurs sur un périmètre technique au carrefour de multiples besoins : microscopie électronique à balayage et en transmission, sonde atomique tomographique, analyse de surface, rayons x ; le ou la candidate devra donc faire preuve de dynamisme, d’esprit d’initiative, de curiosité et d’un sens du relationnel développé afin de progresser rapidement dans l’accomplissement de ses missions.
Votre expérience et votre prise d’initiative seront un atout lors de la mise à jour de la roadmap de la thématique, visant à définir un plan d’investissement et une montée en compétences techniques de l’équipe en lien avec les besoins de support aux projets.